设计缺陷对检验检测的影响

2020-05-19 12:01:49 514

设计缺乏可检测性造成检测困难

设计缺陷.jpg

  • 元器件间距过小。

  • 较高元器件附近未留足空间,飞针等设备无法操作。

  • 测试点隐藏或遮蔽(如测试点设计在元器件底部)而无法接触电测试点。测试点尺寸、间距过小和焊盘可焊性涂层材料用OSP。


标签: 设计缺陷

微信公众号