什么样的设计缺陷会对检验检测有影响

2020-05-19 12:01:49 489

检测影响.jpg

  1. 元器件间距过小。

  2. 较高元器件附近未留足空间,飞针等设备无法操作。

  3. 测试点隐藏或遮蔽(如测试点设计在元器件底部)而无法接触电测试点。

  4. 测试点尺寸、间距过小和焊盘可焊性涂层材料用OSP。


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