什么样的设计缺陷会对检验检测有影响

2020-05-19 12:01:49 643

1. 元器件间距过小。

2. 较高元器件附近未留足空间，飞针等设备无法操作。

3. 测试点隐藏或遮蔽（如测试点设计在元器件底部）而无法接触电测试点。

4. 测试点尺寸、间距过小和焊盘可焊性涂层材料用OSP。